硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做，适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；可以方便的快移和精确的位移检查；也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
金相显微镜m210
m210主要用于鉴定和分析金属内部结构组织。适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物体，如印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、纺织；金相显微镜不仅能观察动态图像，还能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。具有附件多，使用性能广泛，能
倒置金相三目显微镜（带偏光）
适用于金相、岩相、矿相、晶体组织结构分析和鉴别。也可用于观察材料表面的某些特性。如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等. 总放大倍数：40X-1000X
T-BJ便携式金相显微镜
T-BJ便携式金相显微镜: T-BJ便携式金相显微镜采用LED垂直照明，不采用220V交流电源，是为了用户使用轻便和安全，并便于携带也可观察大件材料。仪器照明的一次充电可连续使用四十个小时左右、使用时间长、省电、发热量小，使用安全等特点。 T-BJ便携式金相显微镜可配置C
